动态光散射技术详解——大塚电子纳米粒度仪的测量原理

更新时间：2026-06-10

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粒径分析是纳米材料表征中最为基础也是最为关键的环节。大塚电子的纳米粒度仪采用动态光散射法（Dynamic Light Scattering, DLS），又称光子相关光谱法，通过分析溶液中颗粒的布朗运动来测定粒径分布。

动态光散射的基本原理是：当激光束照射分散在液体中的颗粒时，颗粒因布朗运动产生随机位移，导致散射光强度随时间波动。小颗粒运动速度快，散射光波动频率高；而大颗粒运动缓慢，波动频率低。系统通过光子相关器计算散射光强度的时间自相关函数，进而求得颗粒的扩散系数，最后依据Stokes-Einstein方程换算为流体动力学直径。大塚电子的设备采用高灵敏度雪崩光电二极管（APD）探测器，确保对微弱散射信号的捕获能力。

大塚电子的纳米粒度仪可测量粒径范围为0.6 nm至10 μm，几乎覆盖了从纳米到亚微米的全尺度区间，浓度范围从0.00001%的稀溶液到40%的浓溶液均可对应。代表性产品包括ELSZ系列、nanoSAQLA多样品粒径测量系统等，广泛应用于界面化学、无机材料、半导体、高分子聚合物、生物医药等领域的粒度分布评估。

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