大塚电子——用光学技术重新定义粒径分析与表面电位测量

更新时间：2026-06-10

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在胶体科学、材料研发与制药工程等领域，颗粒的粒径分布与表面电荷特性是决定体系稳定性的核心参数。日本大塚电子株式会社（Otsuka Electronics）自1970年成立以来，始终以“用光学技术解决世界问题"为使命，深耕光学测量与分析技术领域，形成了独特的技术体系。作为大塚集团旗下的重要科技企业，大塚电子将其核心技术应用于粒径分析、Zeta电位测量和膜厚检测等领域，为全球医疗健康、生命科学、新材料和半导体产业提供了多种创新方案。

大塚电子（苏州）有限公司成立于2007年4月，致力于让中国客户安心使用已有50年历史的日本大塚电子所研发的测量与分析设备。公司产品涵盖纳米颗粒粒径和Zeta电位测量设备、半导体晶圆和薄膜厚度检测设备，以及LED、OLED等光源和照明行业的光学特性评估设备。以高速、高精度、高可靠性的纳米粒度仪器系列为基础，大塚电子在中国的纳米材料、生物制药等市场上已有20年以上销售实例，为众多厂商的研发和生产部门所使用。

大塚电子的核心竞争力在于其光学测量平台。通过散射光、光谱分析、膜厚测量等技术的不断创新与融合，公司成功地将“看不见的世界"以数据的方式清晰呈现出来。本文将从粒度仪、Zeta电位计和膜厚计三个维度，系统介绍大塚电子的核心产品线及其在多领域的应用价值。

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