描述：横河YOKOGAWA 半导体激光器 光学光谱分析仪 AQ6376E
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横河YOKOGAWA 半导体激光器 光学光谱分析仪 AQ6376E

横河YOKOGAWA 半导体激光器 光学光谱分析仪 AQ6376E

测量性能

• 长波长 1500-3400 纳米

• 高速和高性能

• 波长精度：±0.50 nm

• 波长分辨率：0.1 nm

• 灵敏度：-65 dBm

• 近距离动态范围：55 分贝

• 测量动态范围：78 dB * 2200–3200 nm，典型值

• 配备优良的脉冲光测量模式。

• 配备清除机制

应用

• 半导体激光器/光纤激光器/超连续谱光源

• 用于气体传感/环境测量

• 医疗的

• 光学无源器件
  滤波器、光纤布拉格光栅、特种光纤等。

兼容长波长：1500 纳米至 3400 纳米

它涵盖了广泛的波长范围，从用于通信的波长到用于环境测量（如气体传感和医疗应用）的中红外范围。

宽动态测量范围：78 dB 　*典型值

可以同时测量从 +13 dBm 到 -65 dBm 的宽范围内的频谱。

高近邻动态范围 (HDR) 55 分贝

高分辨率，0.1 nm 至 2.0 nm

该设备采用双程单色仪光学系统。该系统可实现高波长分辨率（0.1 nm）和宽近场动态范围（55 dB），从而能够分离和测量信号附近的噪声成分。

高级脉冲光测量（APLM）模式

在测量红外脉冲光光谱时，必须降低光谱仪内部红外辐射的影响。由于红外辐射的强度和光谱会随温度变化而不断波动，因此必须在远小于红外辐射光谱变化时间的时间间隔内进行背景校正，以减少其对测量结果的影响。

APLM 模式是一种脉冲光测量功能，它将测量范围分成“n"段，并对每段进行背景校正，从而减少每个段的测量时间，进而减少红外辐射的影响，并扩大短脉冲光和长重复周期脉冲光的应用范围。