新品发布！！Otsuka 大塚电子多样品纳米颗粒尺寸测量系统 nanoSAQLA

更新时间：2026-06-10

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近期我司新推出Otsuka 大塚电子多样品纳米颗粒尺寸测量系统 nanoSAQLA

这是一款采用动态光散射法（DLS法）的粒度测量系统（粒径范围0.6 nm - 10 μm*）。该系统包含多种功能，可进一步提升质量控制水平。

它测量速度快（约1分钟），且轻巧紧凑，非常适合实验室使用。

此外，这款新型光学系统能够连续测量多个样品，浓度范围从稀溶液到浓溶液均可适用。

此外，该产品为新型非浸入式（非浸入型），因此不会造成污染问题，且在不使用自动进样器的情况下，可连续测量多达 5 个样品。

*直方图分析的最小值：0.2 nm

特征

■纳米SAQLA的特点

简单快捷的一次性设置，最多可处理 5 个不同条件下的样品。
可测量稀释和高浓度样品
测量时间大约需要 1 分钟以上
包含温度梯度功能
无污染连续测量

测量范围（理论值）

粒径范围：0.6 nm-10 μm*
适用浓度范围 0.00001-40 ％
温度范围 0-90℃

*直方图分析最小值：0.2 nm

模型	多样品纳米颗粒尺寸测量系统
原则	动态光散射法
光源	高功率半导体激光器*1
探测器	高灵敏度APD
连续测量	最多 5 个样本
测量范围	0.6 nm - 10 μm *2
相应的浓度	0.00001 - 40 % *3
温度	0-90℃（带梯度功能）*4
尺寸	240（宽）× 480（深）× 375（高）毫米
重量	约18公斤
软件	平均粒径分析（累积法）
	粒度分布分析（Marquardt算法/NNLS/连续算法/单峰算法）
	粒径分布重叠
	反相关函数/残差图
	粒度图
	显示的粒径范围（0.1 - 10 6 nm）
	计算分子量的函数
选项	微量样品池（样品量 20 μL 及以上），带通滤波器

　本产品根据IEC 60825-1/JIS C 6802激光安全标准，属于1类激光产品。
*2 直方图分析最小值：0.2 nm。
*3 PS乳胶颗粒：0.00001 - 10%；牛磺胆酸：-40%。 *4 使用玻璃池和批量池架时，工作温度为0 - 90℃；使用5个固定池架或一次性池时，工作
温度为15-40℃。

新品发布！！Otsuka 大塚电子 多样品纳米颗粒尺寸测量系统 nanoSAQLA

新品发布！！Otsuka 大塚电子多样品纳米颗粒尺寸测量系统 nanoSAQLA