新品发布！！FLUORO福乐便携式芯片测试仪 901

更新时间：2026-05-27

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近期我司新推出FLUORO福乐便携式芯片测试仪 901

在半导体制造与测试领域，高精度、便携式检测设备愈发关键。FLUORO 福乐 901 便携式芯片测试仪（常被称作携带式测漏仪），凭借精密设计与可靠性能，成为 6-8 寸晶片检测的优选设备，广泛应用于半导体产线与实验室场景。

该设备采用优化的双点接触结构，上方接触面 5.5mm、下方 15.0mm，形成平衡力学支撑，保障操作稳定。154mm 标准长度搭配 47g 轻量化机身，兼顾精度与便携性，适配日常晶片搬运与检测作业。在材料与工艺上，接触部位采用 Vespel® 材料，硬度 60 Shore D，摩擦系数低于 0.2，可避免晶片划伤并减少静电风险。接触面经光学抛光，粗糙度优于 Ra0.08μm，满足 Class 10 洁净室要求。高温耐受性突出，288℃环境下性能稳定，热变形温度达 300℃，适配高温 CVD、退火等严苛工艺。标准化设计便于产线管理，兼顾研发调试与批量检测需求。综上，FLUORO 福乐 901 以精密结构、安全材质与强环境适应性，为半导体芯片检测提供高效可靠解决方案，是半导体行业品质管控的实用设备。

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