新品发布！！大塚电子 OTSUKA nanoSAQLA多样品纳米颗粒尺寸测量系统

更新时间：2026-05-06

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近期我司新推出大塚电子 OTSUKA nanoSAQLA多样品纳米颗粒尺寸测量系统

在半导体浆料批次检验、纳米抗体药物稳定性评价以及高分子聚合反应跟踪等任务中，“既能处理大批量样本，又能准确捕捉纳米级颗粒分布"始终是一对看似矛盾却难以回避的核心需求。传统动态光散射仪器受限于通道低通量和样品池反复清洗的时间成本，在高频质控场景下常常成为产线出品的瓶颈。日本大塚电子（OTSUKA ELECTRONICS）针对这一技术痛点推出的nanoSAQLA多样品纳米颗粒尺寸测量系统，正以高适应性的测量方案帮助实验室从“单一任务式检测"迈向“批量化、标准化评估"。

通量与拓展体系。 nanoSAQLA主机直接提供5工位直接连续测量能力。启用AS50自动进样器后，单次最大装载量扩展至50个样本，且系统性支持有机溶剂兼容的一次性玻璃比色皿及适配低介电常数溶剂的特殊样品池，涵盖水溶液、无水有机溶剂和高盐/高黏度背景媒介等多种真实样品环境。各工位样品槽内置非浸入式Cell block，物理隔离，避免样品交叉污染。

三角度光学设计与核心规格。该设备基于动态光散射原理，采用660nm / 70mW 高功率半导体激光器与高灵敏APD探测器。光学架构方面通过正面、侧面和背面三角度测量及分析，显著提升了多分散体系或宽分布样品的粒径分辨能力。粒径可测范围0.6nm～10μm，辅以0.00001%～40% 的超宽浓度适应能力，涵盖了从痕量纳米颗粒到高颗粒含量浓悬浮液的全谱段表征需求。

温控与软件质控。 0～90℃温度梯度功能支持BSA等温敏样品的粒径-温度依赖性和相变可逆性分析。软件配备Marquardt、NNLS、Contin等多种反演算法，用于区分多峰粒度分布，同时提供累积量法计算平均粒径、Z平均直径和分子量（选配），并涵盖逆相关函数曲线、残差曲线、粒径监测图和21 CFR Part 11合规功能（选配），为医药和半导体行业的合规文件追溯提供了系统化支持。

凭借高速通量、超宽浓度包容性以及严格的数据追溯保障，nanoSAQLA已在界面化学、聚合物、生物制药和半导体质检等领域展现出较强的现场交付能力。对于追求批次间稳定性和高通量粒径筛查的质控/研发部门，nanoSAQLA+AS50的联用方案提供了可信赖的快速部署路径。

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