新品发布！！大塚电子 OTSUKA Zeta电位、粒径和分子量测量系统 ELSZneo

更新时间：2026-05-06

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近期我司新推出大塚电子 OTSUKA Zeta电位、粒径和分子量测量系统 ELSZneo

在胶体与界面科学领域，颗粒的粒径分布、Zeta电位及高分子分子量是决定分散体系稳定性与功能特性的关键参数。日本大塚电子株式会社（OTSUKA ELECTRONICS）凭借其在光散射技术领域数十年的研发积累，推出了ELSZneo Zeta电位/粒径/分子量测量系统，为材料表征、制药工程及纳米技术等领域提供了精准、灵活的分析平台。

ELSZneo的粒径测量采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）技术，通过分析颗粒布朗运动导致的散射光强度波动，依据Stokes-Einstein方程计算水动力学直径。系统配备高灵敏度雪崩光电二极管（APD）探测器和窄带半导体激光光源，z低可测至0.6nm，上限达10μm，浓度适用范围从0.00001%延伸至40%。

Zeta电位测量采用电泳光散射（Electrophoretic Light Scattering, ELS）法，即激光多普勒技术，在施加电场的条件下检测带电颗粒电泳迁移率所引发的散射光频率偏移。ELSZneo创新性地引入了电渗流实测校正技术，通过森·冈本公式对样品池内不同深度位置的颗粒表观迁移率进行多点解析，精确剥离电渗流干扰，从而获得不受池体污染和样品吸附影响的真实Zeta电位值。针对平板状固体样品，全新开发的平板样品池采用高盐耐受涂层设计，可在生理盐水等高离子强度环境下进行表面Zeta电位测量。

作为ELA系列最g端机型，ELSZneo全面支持5类扩展应用模块：粒子浓度测定（基于静态光散射法）、微流变黏弹性分析、凝胶网络结构分析以及高分辨率多角度粒径测量，为研发人员提供了超越基础表征的工具集。在测量通量与样品保护方面，系统提供从3μL超微量池到标准流通池的多样化选择，用户无需更换样品即可在同一池体内完成粒径与zeta电位的连续测定。此外，0～90℃宽温程自动梯度扫描功能能够同步输出蛋白变性温度、相变过渡曲线等关键热力学参数。

ELSZneo凭借宽广的浓度适应性、多参数综合测试能力以及精密电渗流校正算法，已在界面化学、半导体CMP制程控制、新型生物药制剂开发等场景中展现出优秀的应用价值。

新品发布！！ 大塚电子 OTSUKA Zeta电位、粒径和分子量测量系统 ELSZneo

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