Photonic-Lattice WPA-200二维双折射测量系统及其在透明材料检测中的应用

更新时间：2026-09-28

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随着透明树脂、光学薄膜及精密光学材料在电子、光学和精密制造领域的应用增加，材料内部应力、分子取向以及双折射变化逐渐成为材料质量评价中的重要检测指标。

Photonic-Lattice WPA-200是一款二维双折射测量系统，主要用于透明材料的相位差和轴方向分布检测，并可通过数据处理功能进行应力值换算。

透明材料受到加工应力、热应力或分子取向影响后，可能产生双折射现象。通过偏振光学测量，可以获得材料不同区域的相位差和轴方向信息。

WPA-200采用多波长测量方式，对523nm、543nm和575nm三个波长的数据进行综合计算，从而扩大相位差检测范围。

根据厂家公开规格，WPA-200的相位差测量范围为0～3500nm（以纯石英测量条件为参考），传感器分辨率为384×288像素。

与传统单点测量方式相比，二维测量能够获得被测区域内的相位差分布。

对于透明树脂制品而言，不同位置可能由于注塑流动、冷却以及产品结构变化产生不同程度的取向和内部应力。通过二维相位差图，可以对样品整体区域进行观察，有助于发现局部异常区域。

WPA-200的标准视野根据镜头配置不同，可覆盖约27×36mm至100×133mm；同时还可选配变焦镜头，以适应不同尺寸和观察区域的检测需求。

从产品定位来看，WPA-200主要适用于具有双折射特征的透明材料及制品，包括：

1. 透明树脂制品

可用于注塑件、透明塑料板材及其他透明树脂产品的相位差分布评价。

2. 光学薄膜

对于薄膜产品，可以通过二维测量观察不同区域的相位差均匀性。

3. 光学相关部件

透明光学部件在加工过程中可能产生内部应力和取向变化，WPA-200可用于相关研发和质量评价。

Photonic-Lattice资料也将WPA-200系列定位于薄膜及透明树脂产品的二维双折射测量。

WPA-200配套WPA-View软件，可用于测量数据的显示和分析。

根据具体配置，还可以提供数据处理、视场校正、镜头分析、实时分析、远程控制以及色散模式等功能。部分功能属于选配项目，实际配置应根据设备型号及采购方案确定。

以上参数以厂家公开资料为依据，具体配置及选配功能应以实际产品规格为准。

Photonic-Lattice WPA-200通过多波长二维测量方式，对透明材料的相位差和双折射分布进行检测，可用于透明树脂、光学薄膜及相关光学材料的研发和质量控制。

对于需要分析材料内部应力、取向状态以及相位差均匀性的实验室和生产检测场景，WPA-200可作为二维双折射检测设备进行选型参考。