日本Photonic Lattice WPA-300二维双折射评估系统技术参数及应用

更新时间：2026-09-03

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透明材料在注塑、成型、拉伸及光学加工过程中，可能由于分子取向、加工应力及温度变化等因素产生双折射。对于光学元件、透明树脂制品及薄膜而言，双折射分布是评价材料光学性能和工艺状态的重要参考指标。

日本Photonic Lattice WPA-300系列二维双折射评估系统，主要针对透明材料的二维双折射及相位差测量。

一、主要测量项目

WPA-300可输出相位差/延迟量（Retardation）、轴向角度（Axis Orientation）等数据。配置相应数据处理功能后，还可以进行应力等效值分析。

与传统局部测量方式相比，二维成像测量可以获得样品平面内的分布信息，更适合用于均匀性评价和局部异常分析。

根据Photonic Lattice公布的产品资料，WPA-300主要参数如下：

测量范围：0～3500nm（纯石英测量条件）

重复性：
相位差：σ＜0.1nm
轴向角度：σ＜0.1°（相位差＞10nm）

偏振成像传感器分辨率：848×680像素

工作波长：523nm、543nm、575nm

软件：WPA-View

标准视场范围：约36×45mm～100×133mm

设备尺寸：约270×380×最大624mm

设备重量：约15kg

同时，系统还可根据检测需求配置变焦镜头、数据处理、视场校正、镜头分析、实时分析及远程控制等功能。

WPA-300采用三个不同波长进行测量，并通过数据计算获得较大范围的相位差信息。

这一设计主要针对高相位差透明材料，与低相位差测量设备相比，其应用范围更加偏向透明树脂制品、薄膜及其他具有较高相位差的样品。

WPA-300可用于透明树脂注塑件、透明薄膜、光学部件等样品的双折射及相位差分布评价。

在注塑产品检测中，可以通过二维测量结果观察不同区域的双折射变化，为分析成型工艺和内部应力状态提供参考。

在薄膜检测中，可以利用二维分布结果评价产品不同位置的相位差均匀性。

在光学元件检测中，则可以用于分析产品的双折射及轴向角度分布，为研发和质量控制提供数据支持。

日本Photonic Lattice WPA-300系列的核心特点是二维双折射成像、多波长测量以及较大的相位差测量范围。对于需要对透明材料进行整体分布评价，而不仅仅是进行单点测试的实验室和质量检测场景，该系统具有一定的应用价值。

实际选型时，还需要结合样品材质、尺寸、相位差范围、测试精度及视场要求进行综合判断。